
Супутниковий спектрометр електронів і протонів СТЕП-Ф є складним наукомістким приладом і включає, зокрема , детекторні шари з кристалів CsI: Tl. На фотографії можна бачити шар Д3, який складається з мініатюрних чутливих елементів і фотодіодів.
Високий рівень технічних рішень, використаних при створенні супутникового приладу СТЕП-Ф, підтверджується наявністю 11 патентів України, Російської Федерації та колишнього СРСР. З цієї тематики опубліковано 39 наукових робіт, присвячених опису приладу і результатами випробувань, як самого приладу, так і його складових частин. Впровадження спектрометра СТЕП-Ф у виробництво підтверджено 11 актами і протоколами автономних, вхідних, стикувальних, комплексних випробувань габаритно- вагового, антенного, лабораторного, технологічного, льотного зразків приладу. За допомогою СТЕП-Ф отримані наукові результати світового рівня, які опубліковані в 11 наукових статтях і збірниках тез конференцій.
Leave a Reply